发明专利实体审查基准. 二 [海外中文图书]

【专业类别】：专利

【文献性质】：专题著作

【作　　者】：张仁平（编）

【出版时间】：2007年01月01日

【出 版 社】：[台湾]经济部智慧财产局

【出 版 地】：台湾省>台北市

【副 标 题】：Substantive examination guidelines for invention patent. 2

【摘要】暂无

【目录】

暂无

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